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X射線衍射儀 Ultima IV系列組合式多功能

型    號(hào):
所屬分類:X射線衍射儀
更新時(shí)間:2020-05-09
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組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學(xué)*的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng),一臺(tái)儀器可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測(cè)試。采用組合式結(jié)構(gòu),通過對(duì)各個(gè)單元的不同組合,可以進(jìn)行各種測(cè)試。

X射線衍射儀 Ultima IV系列組合式多功能的詳細(xì)資料:



一、儀器簡(jiǎn)介

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學(xué)*的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng),一臺(tái)儀器可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測(cè)試。采用組合式結(jié)構(gòu),通過對(duì)各個(gè)單元的不同組合,可以進(jìn)行各種測(cè)試。

 

二、技術(shù)參數(shù)

1. X射線發(fā)生器功率為3KW

2. 測(cè)角儀為水平測(cè)角儀

3. 測(cè)角儀zui小步進(jìn)為1/10000

4. 測(cè)角儀配程序式可變狹縫

5. 高反射效率的石墨單色器

6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror)(理學(xué)*)

7. 小角散射測(cè)試組件

8. 多用途薄膜測(cè)試組件

9. 微區(qū)測(cè)試組件

10. In-Plane測(cè)試組件(理學(xué)*)

11. 高速探測(cè)器D/teX-Ultra

12. X射線衍射-差示掃描量熱儀同時(shí)測(cè)量裝置 XRD-DSC

13. 分析軟件包括:XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等

 

三、主要特點(diǎn)

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。

可以分析的材料包括:金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料。

可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

       主要的應(yīng)用有:

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld結(jié)構(gòu)分析

5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區(qū)樣品的分析

 

 


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